检测内容

薄膜计检测报告如何办理？检测项目及标准有哪些？百检第三方检测机构，严格按照薄膜计检测相关标准进行测试和评估。做检测，找百检。我们只做真实检测。

涉及薄膜 计的标准有13条。

国际标准分类中，薄膜 计涉及到建筑物中的设施、信息技术应用、分析化学、电子显示器件、半导体材料。

在中国标准分类中，薄膜 计涉及到供气器材设备、长度计量、电子计算机应用、电子技术专用材料、分离机械。

，关于薄膜 计的标准

JUS H.B8.480-1989低粘度挥发性液体在薄膜上的蒸发率测定．蒸发计法

德国标准化学会，关于薄膜 计的标准

DIN EN 1359-2017气量计.薄膜式气量计;德文版本EN 1359-2017

英国标准学会，关于薄膜 计的标准

BS ISO 16413-2013采用X射线反射计对薄膜厚度, 密度和接口宽度的评估. 仪器要求. 校准和定位, 数据收集, 数据分析和报告

BS ISO 16413-2013采用X射线反射计对薄膜厚度, 密度和接口宽度的评估. 仪器要求. 校准和定位, 数据收集, 数据分析和报告

国际标准化组织，关于薄膜 计的标准

ISO 16413-2013X射线反射计用薄膜的厚度、密度和接口宽度的评估.仪器邀请,校准和定位,数据收集,数据分析和报告

美国材料与试验协会，关于薄膜 计的标准

ASTM F1844-1997用非接触式涡流计测量平板显示器制造用薄膜导体耐力的标准操作规程

ASTM F1844-1997(2002)用非接触式涡流计测量平板显示器制造用薄膜导体耐力的标准操作规程

ASTM F1844-1997(2008)用非接触式涡流计测量平板显示器制造用薄膜导体耐力的标准实施规程

ASTM F1844-1997(2016)采用非接触式涡流计测量平板显示器制造用薄膜导体的薄层电阻的标准实施规程

ASTM F673-90(1996)e1用非接触涡流计测量半导体薄片电阻率或半导体薄膜片电阻的标准试验方法

ASTM E1294-1989(1999)用自动液体孔率计检验薄膜过滤器的孔径特性的测试方法

欧洲航空航天和国防工业标准化协会，关于薄膜 计的标准

ASD-STAN PREN 4061-1996航空航天系列．25≤a≤64的钎焊厚度25测微计用填充金属中的不定形薄膜．测微计尺寸;第P2版

检测时间周期

一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据薄膜计检测项目而定。

检测报告有效期

一般薄膜计检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

检测流程

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