检测内容

薄膜的弯曲测试检测报告如何办理？检测项目及标准有哪些？百检第三方检测机构，严格按照薄膜的弯曲测试检测相关标准进行测试和评估。做检测，找百检。我们只做真实检测。

涉及薄膜的弯曲测试的标准有9条。

国际标准分类中，薄膜的弯曲测试涉及到半导体分立器件、电子电信设备用机电元件。

在中国标准分类中，薄膜的弯曲测试涉及到其他、半导体分立器件综合。

，关于薄膜的弯曲测试的标准

KS C IEC 62047-8-2015(2020)半导体器件 - 微机电装置 - 第8部分:带弯曲为薄膜的拉伸性能测定的测试方法

日本工业标准调查会，关于薄膜的弯曲测试的标准

JIS C5630-12-2014半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法

英国标准学会，关于薄膜的弯曲测试的标准

BS EN 62047-18-2013半导体器件.微型机电装置.薄膜材料的弯曲测试方法

国际电工委员会，关于薄膜的弯曲测试的标准

IEC 62047-18-2013半导体器件 - 微机电器件 - 第18部分:薄膜材料的弯曲测试方法

IEC 62047-18:2013半导体器件.微型机电器件.第18部分:薄膜材料的弯曲测试方法

IEC 62047-12-2011半导体器件 - 微机电器件 - 第12部分:使用谐振器振荡的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法

IEC 62047-12:2011半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法

法国标准化协会，关于薄膜的弯曲测试的标准

NF C96-050-12-2012半导体器件 - 微型机电装置 - 第12部分: 使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法.

德国标准化学会，关于薄膜的弯曲测试的标准

DIN EN 62047-12-2012半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法(IEC 62047-12-2011).德文版本EN 62047-12-2011

检测时间周期

一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据薄膜的弯曲测试检测项目而定。

检测报告有效期

一般薄膜的弯曲测试检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

检测流程

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