检测内容

薄膜疲劳检测报告如何办理？检测项目及标准有哪些？百检第三方检测机构，严格按照薄膜疲劳检测相关标准进行测试和评估。做检测，找百检。我们只做真实检测。

涉及薄膜疲劳的标准有18条。

国际标准分类中，薄膜疲劳涉及到半导体分立器件、电子电信设备用机电元件、建筑物的防护。

在中国标准分类中，薄膜疲劳涉及到其他、半导体分立器件综合、微电路综合、微型电机、电子设备机械结构件、屋面、铺面防水与防潮材料。

国际电工委员会，关于薄膜疲劳的标准

IEC 62951-4-2019半导体器件.柔性和可伸展半导体器件.第4部分:柔性半导体器件衬底上柔性导电薄膜的疲劳评价

IEC 62951-4:2019半导体器件.柔性和可伸展半导体器件.第4部分:柔性半导体器件衬底上柔性导电薄膜的疲劳评价

IEC 62047-12:2011半导体器件 - 微机电器件 - 第12部分:使用谐振器振荡的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法

IEC 62047-12-2011半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法

IEC 62047-6:2009半导体器件 - 微机电器件 - 第6部分:薄膜材料的轴向疲劳试验方法

IEC 62047-6-2009半导体装置.微电机装置.第6部分:薄膜材料的轴向疲劳试验方法

日本工业标准调查会，关于薄膜疲劳的标准

JIS C5630-12-2014半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法

JIS C5630-12-2014半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法

JIS C5630-6-2011半导体器件.微电机装置.第6部分:薄膜材料的轴向疲劳测试方法

JIS C5630-6-2011半导体器件.微电机装置.第6部分:薄膜材料的轴向疲劳测试方法

法国标准化协会，关于薄膜疲劳的标准

NF C96-050-12-2012半导体器件 - 微型机电装置 - 第12部分: 使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法.

NF C96-050-6-2010半导体装置.微电机装置.第6部分:薄膜材料的轴向疲劳试验方法.

德国标准化学会，关于薄膜疲劳的标准

DIN EN 62047-12-2012半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法(IEC 62047-12-2011).德文版本EN 62047-12-2011

DIN EN 62047-6-2010半导体器件. 微电机设备. 第6部分: 薄膜材料的轴向疲劳试验方法（IEC 62047-6: 2009）;德文版本EN 62047-6: 2010

欧洲电工标准化委员会，关于薄膜疲劳的标准

EN 62047-12-2011半导体器件.微型电机装置.第12部分:用微型电机系统(MEMS)结构谐振进行薄膜材料的弯曲疲劳试验方法

英国标准学会，关于薄膜疲劳的标准

BS EN 62047-6-2010半导体装置.微机电装置.薄膜材料的轴向疲劳试验方法

美国材料与试验协会，关于薄膜疲劳的标准

ASTM D5849/D5849M-2007(2013)e1评估改良沥青屋顶薄膜耐周期性疲劳(接点位移)的标准试验方法

ASTM D5849-2007评估改良沥青屋顶薄膜耐周期性疲劳(接点位移)的标准试验方法

检测时间周期

一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据薄膜疲劳检测项目而定。

检测报告有效期

一般薄膜疲劳检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

检测流程

温馨提示：以上内容仅供参考，更多其他检测内容请咨询客服。