ph值分析检测
2025-01-07
x射线俄歇电子能谱检测报告如何办理?检测项目及标准有哪些?百检第三方检测机构,严格按照x射线俄歇电子能谱检测相关标准进行测试和评估。做检测,找百检。我们只做真实检测。
涉及x射线俄歇电子能谱的标准有26条。
国际标准分类中,x射线俄歇电子能谱涉及到分析化学、电学、磁学、电和磁的测量、无损检测、光学和光学测量、电子元器件综合。
在中国标准分类中,x射线俄歇电子能谱涉及到基础标准与通用方法、综合测试系统、化学助剂基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、光学测试仪器、标准化、质量管理。
GB/T 41064-2021表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
GB/T 31470-2015俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
GB/T 30702-2014表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
GB/T 29556-2013表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
GB/T 28893-2012表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
GB/T 28632-2012表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
ISO 17109:2022表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
ISO 20903:2019表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
ISO 17109:2015表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
ISO/TR 19319:2003表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
ASTM E996-19俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
ASTM E996-10(2018)俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
ASTM E995-16俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南
ASTM E995-11在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南
ASTM E996-10俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
ASTM E996-04俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
ASTM E996-94(1999)俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
BS ISO 17109:2015表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
BS ISO 20903:2011表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
JIS K0167-2011表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南
NF X21-058-2006表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
KS D ISO 18118-2005(2020)表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南
KS D ISO 19319-2005(2020)表面化学分析-俄歇电子能谱和X射线光电子能谱-分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
KS D ISO 19319:2005表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
SJ/T 10458-1993俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则
AS ISO 18118:2006表面化学分析.俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法.均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南
一般3-10天出报告,有的项目1天出报告,具体根据x射线俄歇电子能谱检测项目而定。
一般x射线俄歇电子能谱检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。
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