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x射线俄歇电子检测报告如何办理？检测项目及标准有哪些？百检第三方检测机构，严格按照x射线俄歇电子检测相关标准进行测试和评估。做检测，找百检。我们只做真实检测。

涉及x射线 俄歇 电子的标准有64条。

国际标准分类中，x射线 俄歇 电子涉及到分析化学、电学、磁学、电和磁的测量、长度和角度测量、无损检测、光学和光学测量、电子元器件综合。

在中国标准分类中，x射线 俄歇 电子涉及到基础标准与通用方法、综合测试系统、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、化学助剂基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、光学测试仪器、化学、标准化、质量管理。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于x射线 俄歇 电子的标准

GB/T 41064-2021表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法

国家质检总局，关于x射线 俄歇 电子的标准

GB/T 31470-2015俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则

GB/T 30702-2014表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南

GB/T 29556-2013表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定

GB/T 28893-2012表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息

GB/T 28632-2012表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定

GB/T 21006-2007表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性

国际标准化组织，关于x射线 俄歇 电子的标准

ISO 17109-2022表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法

ISO 20903-2019表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息

ISO 17109-2015表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法

ISO 17109:2015表面化学分析 - 深度分析 - X射线光电子能谱法中的溅射速率测定方法 俄歇电子能谱和二次离子质谱法使用单层和多层薄膜的溅射深度分析

ISO 18118:2015表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.均匀材料定量分析用实验测定相对灵敏度因子的使用指南

ISO 18118-2015表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南

ISO 20903-2011表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法

ISO 20903:2011表面化学分析——俄歇电子能谱和X射线光电子能谱——报告结果时用于确定峰值强度和所需信息的方法

ISO 18516-2006表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定

ISO 18516:2006表面化学分析——俄歇电子能谱和X射线光电子能谱——横向分辨率的测定

ISO 20903:2006表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.报告结果时确定峰值强度和所需信息的方法

ISO 21270:2004表面化学分析——X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪——强度标度线性

ISO 21270-2004表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

ISO 18118-2004表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南

ISO/TR 19319-2003表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测

ISO/TR 19319:2003表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.用分析仪观察横向分辨率 分析面积和样品面积的测定

美国材料与试验协会，关于x射线 俄歇 电子的标准

ASTM E1217-11(2019)用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践

ASTM E996-19俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程

ASTM E996-10(2018)俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程

ASTM E995-16俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南

ASTM E1217-11用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践

ASTM E995-11俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南

ASTM E995-2011在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南

ASTM E1217-2011用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号样品面积的标准操作规程

ASTM E996-10俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程

ASTM E996-2010俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程

ASTM E1217-05用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践

ASTM E1217-2005用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范

ASTM E996-04俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程

ASTM E995-04俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南

ASTM E996-2004俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程

ASTM E1217-00用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践

ASTM E1217-2000用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范

ASTM E996-94(1999)俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程

ASTM E995-97俄歇电子和X射线光电子能谱中背景差减技术的标准指南

ASTM E996-1994(1999)俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程

英国标准学会，关于x射线 俄歇 电子的标准

BS ISO 17109-2015表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法

BS ISO 17109-2015表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法

BS ISO 18118-2015表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南

BS ISO 20903-2011表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息

BS ISO 20903-2011表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息

BS ISO 18516-2006表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定

BS ISO 21270-2005表面化学分析.X射线光电子和俄歇电子光谱仪.强度标的线性度

BS ISO 18118-2005表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南

日本工业标准调查会，关于x射线 俄歇 电子的标准

JIS K0167-2011表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南

法国标准化协会，关于x射线 俄歇 电子的标准

NF X21-058-2006表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息

，关于x射线 俄歇 电子的标准

KS D ISO 19319-2005(2020)表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定

KS D ISO 21270-2005(2020)表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性

KS D ISO 18118-2005(2020)表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南

韩国标准，关于x射线 俄歇 电子的标准

KS D ISO 18118-2005表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南

KS D ISO 21270-2005表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

KS D ISO 21270-2005表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

KS D ISO 19319-2005表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测

KS D ISO 18118-2005表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南

KS D ISO 19319-2005表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测

行业标准-电子，关于x射线 俄歇 电子的标准

SJ/T 10458-1993俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则

澳大利亚标准协会，关于x射线 俄歇 电子的标准

AS ISO 18118-2006表面化学分析．俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法．均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南

检测时间周期

一般3-10天出报告，有的项目1天出报告，具体根据x射线俄歇电子检测项目而定。

检测报告有效期

一般x射线俄歇电子检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

检测流程

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