织带检测报告
2024-06-24
x射线厚度检测报告如何办理?检测项目及标准有哪些?百检第三方检测机构,严格按照x射线厚度检测相关标准进行测试和评估。做检测,找百检。我们只做真实检测。
涉及x 射线 厚度的标准有53条。
国际标准分类中,x 射线 厚度涉及到分析化学、金属材料试验、表面处理和镀涂、长度和角度测量、信息技术应用、珠宝、焊接、钎焊和低温焊。
在中国标准分类中,x 射线 厚度涉及到基础标准与通用方法、金属物理性能试验方法、材料防护、电化学、热化学、光学式分析仪器、长度计量、电子计算机应用、金属无损检验方法、工艺美术品、焊接与切割、、电容器。
GB/T 36053-2018X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告
GB/T 34190-2017电工钢表面涂层的重量(厚度) X射线光谱测试方法
GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
GB/T 16921-2005金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱法
GB/T 16921-1997金属覆盖层厚度测量X射线光谱方法
ASTM D7639-22用X射线荧光法测定金属基底上锆处理重量或厚度的标准试验方法
ASTM B568-98(2021)通过X射线光谱法测量涂层厚度的标准测试方法
ASTM D7639-10(2018)通过X射线荧光测定金属基板上锆的处理重量或厚度的标准测试方法
ASTM D7639-10(2014)通过X射线荧光测定金属基板上锆的处理重量或厚度的标准测试方法
ASTM D7639-10X射线荧光法测定金属基底上的锆处理重量或厚度的标准试验方法
ASTM E592-99(2009)e1钢板射线照相法获得的ASTM等效孔径灵敏度的标准指南<6> >> 2分(6〜51毫米)厚X-光线和1至6英寸(25至152毫米)厚度与钴 - 60
ASTM A754/A754M-08X射线荧光涂层厚度的标准试验方法
ASTM B568-98(2004)用X射线光度法测定覆层厚度的标准试验方法
ASTM B568-98用X射线光度法测定覆层厚度的标准试验方法
ASTM B568-98(2014)用X射线光度法测量镀层厚度的标准试验方法
ASTM B568-98(2009)用X射线光度法测量镀层厚度的标准试验方法
NBN F 51-001-1976由铝和铝合金及镁和镁合金融合对焊的接头 厚度在5至50MM之间,使用X 射线检测的推荐方法
ISO 16413:2020通过X射线反射法评估薄膜的厚度 密度和界面宽度 - 仪器要求 对准和定位 数据采集 数据分析和报告
ISO 14701:2018表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
ISO 16413:2013X射线反射计用薄膜的厚度、密度和接口宽度的评估.仪器邀请,校准和定位,数据收集,数据分析和报告
ISO 14701:2011表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
ISO 3497-2000金属涂层——涂层厚度的测量——X射线光谱测定法
ISO 3497:2000金属覆盖层 镀层厚度的测量 X射线光谱法
ISO 3497-1990金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法
ISO 3497:1990金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法
ISO 3497:1976金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法
ISO 3497-1976金属涂层.涂层厚度的测量.X射线光谱测定法
ISO 2437:1972厚度5mm~50mm的铝及铝合金和镁及镁合金熔焊对接接头的X射线检验的推荐工艺
BS ISO 14701:2018表面化学分析. X射线光电子能谱学. 二氧化硅厚度测量
BS ISO 16413:2013采用X射线反射计对薄膜厚度, 密度和接口宽度的评估. 仪器要求. 校准和定位, 数据收集, 数据分析和报告
BS ISO 14701:2011表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
BS EN ISO 3497:2001金属覆层.覆层厚度的测量.X射线光谱测定法
JB/T 12962.3-2016能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分:镀层厚度分析仪
QB/T 1135-2006首饰金银覆盖层厚度的测定X射线荧光光谱法
QB/T 1135-1991首饰金银覆盖层厚度的测定方法.X射线荧光光谱法
KS B ISO 2437:2002厚度5mm~50mm的铝和铝合金和镁及镁合金熔焊对接接头的X射线检验推荐工艺
KS D ISO 3497:2002金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法
DIN EN ISO 3497:2001金属镀层.镀层厚度测量.X射线光谱测定法
NF A91-116-2001金属镀层.镀层厚度的测定.X射线光谱法
NF A91-116-1976金属镀层.厚度的测量.用X射线光谱术
EN ISO 3497:2000金属覆盖层.镀层的厚度测量.X射线光谱法ISO 3497-2000
JB/T 5068-1991金属覆盖层厚度测量 X射线光谱法
ECA CB-13-1990镀层厚度测定的X射线荧光
SJ 20147.1-1992银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法
一般3-10天出报告,有的项目1天出报告,具体根据x射线厚度检测项目而定。
一般x射线厚度检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。
温馨提示:以上内容仅供参考,更多其他检测内容请咨询客服。