GB/T19520.7-2004子设备机械结构
2023-09-01
原子力显微镜扫描隧道显微镜检测报告如何办理?检测项目及标准有哪些?百检第三方检测机构,严格按照原子力显微镜扫描隧道显微镜检测相关标准进行测试和评估。做检测,找百检。我们只做真实检测。
涉及原子力显微镜 扫描隧道显微镜的标准有172条。
国际标准分类中,原子力显微镜 扫描隧道显微镜涉及到长度和角度测量、有色金属、光学设备、光学和光学测量、分析化学、词汇、教育、空气质量、电子显示器件、表面处理和镀涂、物理学、化学、建筑材料、犯罪行为防范、航空航天制造用材料、试验条件和规程综合、钢铁产品、陶瓷、核能工程、涂料和清漆、医学科学和保健装置综合。
在中国标准分类中,原子力显微镜 扫描隧道显微镜涉及到放大镜与显微镜、电子光学与其他物理光学仪器、电磁计量、基础标准与通用方法、技术管理、化学计量、检验专用设备、教学专用仪器、记录仪器及光线示波器、光学设备、教育、学位、学衔、石油地质勘探、石油勘探、开发与集输工程综合、、稀有金属及其合金分析方法、材料防护、油页岩、混凝土、集料、灰浆、砂浆、犯罪鉴定技术、公共医疗设备、钢铁与铁合金分析方法、物理学与力学、基础学科综合、光学计量、特种陶瓷、勘探采矿和工艺监测核仪器、大气环境有毒害物质分析方法、化妆品。
ASTM E2382-04(2020)扫描隧道显微镜和原子力显微镜中的扫描仪和尖端相关人工标准指南
ASTM E2382-04扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的指南
ASTM E2382-04(2012)扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的标准指南
ASTM E766-98(2003)校准扫描电子显微镜的放大倍数
ASTM E766-98校准扫描电子显微镜的放大倍数
ASTM E986-97扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
ASTM E986-04(2017)扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
ASTM E766-14扫描电子显微镜放大倍率校准的标准方法
ASTM E986-04扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程
ASTM E986-04(2010)扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程
ASTM E766-98(2008)e1扫描电子显微镜的放大系数的标准校正规范
ASTM C1723-16(2022)用扫描电子显微镜检查硬化混凝土的标准指南
ASTM C1723-10用扫描电子显微镜检验硬化混凝土的标准指南
ASTM C1723-16用扫描电子显微镜检查硬化混凝土的标准指南
ASTM E766-14(2019)校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
ASTM E2859-11(2017)使用原子力显微镜测量纳米粒子的标准指南
ASTM E285-08(2015)使用原子力显微镜测量纳米粒子的标准指南
ASTM E2090-00利用光电子显微镜和扫描电子显微镜对清洁室擦刷工具释放粒子和纤维的尺寸差异计数的标准试验方法
ASTM E2090-12利用光电子显微镜和扫描电子显微镜对清洁室擦刷工具释放粒子和纤维的尺寸差异计数的标准试验方法
ASTM F1438-93(1999)用于气体分配系统部件扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准测试方法
ASTM F1438-93(2020)用于气体分配系统部件扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准测试方法
ASTM E766-14e1用于校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
ASTM F1438-93(2012)使用气体分配系统组件中扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准试验方法
ASTM B748-90(2006)用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
ASTM B748-90(1997)用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
ASTM E2859-11(2023)使用原子力显微镜测量纳米粒子尺寸的标准指南
ASTM E2142-08(2015)用扫描电子显微镜评定和分类钢中夹杂物的标准试验方法
ASTM E2142-08用扫描电子显微镜分级和分类铁中内含物的标准试验方法
ASTM E2859-11利用原子力学显微镜进行尺寸测量的标准指南
ASTM B748-90(2010)扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的标准试验方法
ASTM E2809-13在法医油漆检查中使用扫描电子显微镜/X射线光谱法的标准指南
ASTM B748-90(2021)用扫描电子显微镜测量横截面测量金属涂层厚度的标准试验方法
ASTM E1588-95(2001)用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
ASTM E1588-08用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
ASTM E1588-10用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
ASTM E2142-01利用扫描电子显微镜测定钢中杂质的额定值和分级的标准试验方法
ASTM E1588-95用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
ASTM B748-90(2016)通过用扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的试验方法
KS D 2714-2016(2021)扫描探针显微镜-侧向力显微镜法
KS D 2714-2016横向力显微镜扫描探针显微镜方法
KS D ISO 22493-2012(2017)微束分析扫描电子显微镜词汇
KS D ISO 22493:2022微束分析.扫描电子显微镜.词汇
KS D ISO 22493:2012微光束分析.扫描电子显微镜.术语
KS M 0044-1999扫描电子显微镜的一般规则
KS I 0051-1999(2019)扫描电子显微镜的一般规则
KS I 0051-1999扫描电子显微镜试验方法通则
KS D ISO 16700:2013微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
KS D ISO 16700-2013(2018)微束分析-扫描电子显微镜-图像放大率校准指南
KS D 2714-2006扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法
KS D ISO 9220:2009金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
KS D ISO 9220-2009(2022)金属镀层镀层厚度的测量扫描电子显微镜法
KS D ISO 9220-2009(2017)金属镀层镀层厚度的测量扫描电子显微镜法
ISO/TS 21383:2021微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
ISO 22493:2008微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇
ISO 21222:2020表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
ISO 16700:2004微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
ISO 16700:2016微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
ISO 23729:2022表面化学分析.原子力显微镜.有限探针尺寸放大原子力显微镜图像的恢复程序指南
ISO 9220:1988金属覆盖层 镀层厚度测量 扫描电子显微镜法
ISO 9220:2022金属涂层.涂层厚度的测量.扫描电子显微镜法
ISO/TS 24597:2011微光束分析.扫描电子显微镜检查法.图像清晰度评价法
ISO 21466:2019微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法
ISO/WD TR 23683:2023表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
ISO 19749:2021纳米技术.用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
ISO 14966:2019环境空气.无机纤维颗粒数值浓度的测定.扫描电子显微镜法
ISO 14966:2002环境空气.无机纤维颗粒的数值浓度的测定.扫描电子显微镜检查法
JIS K 0132:1997扫描电子显微镜总则
JIS K 3850-1:2006空中纤维分子的测定.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
JIS K 3850-1:2000空气中纤维粒子的测量方法.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
JIS K 0149-1:2008微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
JIS R 1633:1998扫描电子显微镜观察用精细陶瓷和陶瓷粉末的样品制备方法
GOST R 8.593-2009确保测量一致性的国家体系.原子力扫描隧道显微镜.检定规程
GOST 8.593-2009国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.鉴定方法
GOST R 8.635-2007国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
GOST R 8.594-2009确保测量一致性的国家体系.扫描电子显微镜
GOST R 8.630-2007国家测量统一性保证体系.原子能扫描探测显微镜.验证方法
GOST R 8.636-2007国家测量统一性保证体系.扫描电子显微镜.校准方法
GOST 8.594-2009国家测量统一性保证体系.扫描电子显微镜.鉴定方法
GOST R 8.631-2007国家测量统一性保证体系.扫描电子测量显微镜.验证方法
GOST R 8.700-2010确保测量一致性的国家体系.利用原子力扫描探针显微镜进行测量的表面粗糙度效果测高法
KS D ISO 22493-2022微束分析.扫描电子显微镜.词汇
KS C ISO 19749-2023纳米技术——用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
JJF 1916-2021扫描电子显微镜校准规范
JB/T 6842-1993扫描电子显微镜试验方法
JB/T 5384-1991扫描电子显微镜.技术条件
JJG(教委) 11-1992扫描电子显微镜检定规程
JJG 550-1988扫描电子显微镜试行检定规程
GB/T 33834-2017微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法
GB/T 32262-2015用于原子力显微镜检测的脱氧核糖核酸样品的制备方法
18/30319114 DCBS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜(TIFF/SEM)的标记图像文件格式
BS ISO 16700:2004微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南
BS ISO 21222:2020表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序
BS ISO 21466:2019微束分析 扫描电子显微镜 CDSEM评估关键尺寸的方法
BS EN ISO 9220:1989金属镀层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
19/30351707 DCBS ISO 21222 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序
BS ISO 23729:2022表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
21/30412880 DCBS ISO 23729 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
BS ISO 16700:2016跟踪更改 微束分析 扫描电子显微镜 校准图像放大率的指南
18/30344520 DCBS ISO 21466 微束分析 扫描电子显微镜 CD-SEM 评估关键尺寸的方法
21/30394409 DCBS ENISO 9220 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法
BS ISO 19749:2021纳米技术 用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
BS EN ISO 9220:2022跟踪更改 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法
BS EN ISO 19749:2023纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
BS ISO 14966:2019周围空气 无机纤维颗粒数值浓度的测定 扫描电子显微镜法
18/30351679 DCBS ISO 19749 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
BS ISO 14966:2002环境空气.无机纤维颗粒的数值浓度的测定.扫描电子显微镜检查法
18/30375050 DCBS ISO 14966 环境空气 无机纤维颗粒数值浓度的测定 扫描电子显微镜法
JY/T 0584-2020扫描电子显微镜分析方法通则
JY/T 010-1996分析型扫描电子显微镜方法通则
DIN SPEC 52407:2015-03纳米技术 使用原子力显微镜(AFM)和透射扫描电子显微镜(TSEM)进行粒子测量的准备和评估方法
DIN EN ISO 9220:2022-05金属涂层-涂层厚度的测量-扫描电子显微镜法
DIN EN ISO 9220:2021金属涂层-涂层厚度的测量-扫描电子显微镜法(ISO/DIS 9220:2021)
DIN EN ISO 19749:2023-07纳米技术 - 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布(ISO 19749:2021)
DIN EN ISO 9220:1995金属镀层.镀层厚度测量.电子扫描显微镜法 (ISO 9220:1988); 德文版本 EN ISO 9220:1994
SY/T 5162-2014岩石样品扫描电子显微镜分析方法
SY/T 5162-1997岩石样品扫描电子显微镜分析方法
SY 5162-2014岩石样品扫描电子显微镜分析方法
DB31/T 297-2003扫描电子显微镜放大倍率校准方法
SY/T 5162-2021岩石样品扫描电子显微镜分析方法
NF X21-005:2006微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011微束分析 扫描电子显微镜 评价图像清晰度的方法
XP ISO/TS 24597:2011微束分析 - 扫描电子显微镜 - 评估图像清晰度的方法
NF A91-108:1995金属镀层.镀层厚度的测量.扫描电子显微镜法
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022金属镀层 镀层厚度的测量 扫描电子显微镜法
NF EN ISO 9220:2022金属涂层.涂层厚度的测量.扫描电子显微镜法
NF T16-403*NF ISO 19749:2021纳米技术 通过扫描电子显微镜测量粒径和形状分布
NF T25-111-4:1991碳纤维-织构和结构-第4部分:扫描电子显微镜断口法
NF EN ISO 19749:2023纳米技术 - 通过扫描电子显微镜测定颗粒尺寸和形状分布
DB32/T 3459-2018石墨烯薄膜微区覆盖度测试 扫描电子显微镜法
SPB-M6-3-201008 年 4 月:原子力显微镜(技术背景)
SPB-M2-1-2007通过原子力显微镜研究沥青质的界面和流变学特性
GB/Z 26083-2010八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法(扫描隧道显微镜)
GB/T 18295-2001油气储层砂岩样品扫描电子显微镜分析方法
GB/T 19267.6-2003刑事技术微量物证的理化检验第6部分;扫描电子显微镜法
GB/T 17361-2013微束分析 沉积岩中自生粘土矿物鉴定 扫描电子显微镜及能谱仪方法
GB/T 31227-2014原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
GB/T 19267.6-2008刑事技术微量物证的理化检验 第6部分:扫描电子显微镜/X射线能谱法
GB/T 28873-2012纳米颗粒生物形貌效应的环境扫描电子显微镜检测方法通则
GB/T 17361-1998沉积岩中自生粘土矿物扫描电子显微镜及X射线能谱鉴定方法
GB/T 32189-2015氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法
SIS SS-ISO 9220:1989金属涂层.涂层厚度测量.扫描电子显微镜方法
SIS SS CECC 00013-1985基本规范.半导体芯片的扫描电子显微镜观察
EN ISO 9220:2022金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
EN ISO 9220:1994金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法(ISO 9220-1988)
EN ISO 19749:2023纳米技术.用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
prEN ISO 9220:2021金属镀层-镀层厚度的测量-扫描电子显微镜法(ISO/DIS 9220:2021)
DS/EN ISO 9220:1995金属镀层 镀层厚度的测量 扫描电子显微镜法
DS/ISO 19749:2021纳米技术 通过扫描电子显微镜测量粒径和形状分布
T/CSTM 00003-2019二维材料厚度测量 原子力显微镜法
T/GDASE 0008-2020石墨烯薄膜杨氏模量的测定 原子力显微镜法
UNE-EN ISO 9220:2022金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜方法
UNE-EN ISO 19749:2023纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
GA/T 1938-2021法庭科学 金属检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
GA/T 1937-2021法庭科学 橡胶检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
GA/T 1939-2021法庭科学 电流斑检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
GA/T 909-2010微量物证的提取、包装方法 扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物
GA/T 1522-2018法庭科学 射击残留物检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
GA/T 1521-2018法庭科学 塑料元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
GA/T 1519-2018法庭科学 墨粉元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
GA/T 1520-2018法庭科学 黑火药、烟火药元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
UNE-EN ISO 9220:1996金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法 (ISO 9220:1988)
LST EN ISO 9220:2001金属镀层-镀层厚度的测量-扫描电子显微镜法(ISO 9220:1988)
OENORM EN ISO 9220:2021金属镀层-镀层厚度的测量-扫描电子显微镜法(ISO/DIS 9220:2021)
NBN EN ISO 9220:1995金属保护层.保护层厚度的测定:使用电子扫描显微镜(ISO 9220-1988)
VDI 3861 Blatt 2-2008固定源排放废气中无机纤维颗粒的测量扫描电子显微镜法
VDI 3492-2004室内空气测量-环境空气测量-无机纤维颗粒的测量-扫描电子显微镜法
VDI 3492-2013室内空气测量-环境空气测量-无机纤维颗粒的测量-扫描电子显微镜法
GB/T 40066-2021纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法
EJ/T 20176-2018金刚石刀具刃口锋利度的原子力显微镜测量方法
ANSI/ASTM D6059:2001用扫描电子显微镜测定工作环境空气中单晶陶瓷须晶浓度的方法
SN/T 2649.1-2010进出口化妆品中石棉的测定 第1部分:X射线衍射-扫描电子显微镜法
BS CECC 13:1985(1999)电子元件质量评估协调制度:基本规范:半导体芯片的扫描电子显微镜检查
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