GB/T4506-1984针尖锋利度和强度
2025-01-02
碳光谱仪检测报告如何办理?检测项目及标准有哪些?百检第三方检测机构,严格按照碳光谱仪检测相关标准进行测试和评估。做检测,找百检。我们只做真实检测。
涉及碳 光谱仪的标准有497条。
国际标准分类中,碳 光谱仪涉及到陶瓷、分析化学、光学和光学测量、石油和天然气工业设备、物理学、化学、光纤通信、电信专用测量设备、石油和天然气的开采与加工、地质学、气象学、水文学、词汇、金属材料试验、金属矿、表面处理和镀涂、光电子学、激光设备、环境试验、无损检测、计量学和测量综合、辐射测量、非金属矿、黑色金属、医疗设备、化工产品、长度和角度测量、实验室医学、水质、试验条件和规程综合、质量、燃料、电子元器件综合、无机化学、核能工程、石油产品综合、涂料配料、土质、土壤学、空气质量、有机化学、光学设备、天文学、大地测量学、地理学、电站综合、有色金属、电学、磁学、电和磁的测量、绝缘流体、辐射防护、钢铁产品、粒度分析、筛分、烟草、烟草制品和烟草工业设备、润滑剂、工业油及相关产品、皮革技术、废物、电灯及有关装置、水果、蔬菜及其制品、饮料、奶和奶制品、塑料、化工生产。
在中国标准分类中,碳 光谱仪涉及到建筑卫生陶瓷、电化学、热化学、光学式分析仪器、、电子光学与其他物理光学仪器、石油物探测井设备与仪器、色谱仪、光学仪器综合、屋面、铺面防水与防潮材料、光通信设备、光学测试仪器、石油开发、气象学、光学计量、海洋仪器、光学计量仪器、化学计量、基础标准与通用方法、铁矿、激光器件、电气照明综合、电离辐射计量、核仪器与核探测器综合、钢铁产品综合、镜头、其他日用品、石油钻采设备与仪器、物理学与力学、电子测量与仪器综合、医用化验设备、化学、天然气、X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、医疗器械综合、燃料油、电子技术专用材料、钢铁与铁合金分析方法、无机盐、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、合成材料综合、环境条件与通用试验方法、通用核仪器、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、石油产品综合、金属理化性能试验方法综合、稀有金属及其合金分析方法、轻金属及其合金分析方法、固体废弃物、土壤及其他环境要素采样方法、土壤、水土保持、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、航天器遥测遥感系统、光学设备、核材料、核燃料及其分析试验方法、土壤环境质量分析方法、电力试验技术、辐射防护仪器、绝缘油、水环境有毒害物质分析方法、重金属矿、实验室基础设备、气象仪器、稀有高熔点金属及其合金、特种陶瓷、润滑油、其他物质成份分析仪器、工程地质、水文地质勘察与岩土工程、半金属及半导体材料分析方法、电光源产品、无机酸、碱、果类加工与制品、蔬菜加工与制品、重金属及其合金分析方法、乳与乳制品、轻金属及其合金。
STAS 11607-1981低合金碳钢和中合金碳钢光谱摄制仪分析
STAS 12814-1990铝和铝合金.光学发射光谱仪
STAS 11564-1982快速工具钢排放物利用光谱摄制仪分析
NF B41-105*NF EN 15979:2011陶瓷原料和基本材料的试验.直流电弧激发的光谱仪(OES)对碳化硅粉末和颗粒内杂质质量分数的直接测定
NF C93-845:2006光谱分析仪校准
NF EN ISO 23216:2022碳基薄膜 用光谱椭圆光度法测定非晶碳薄膜的光学性能
NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016波长/光频率测量仪器的校准 第1部分:光谱分析仪
NF S11-687:1997光学和光学仪器.隐形眼镜.光谱和光透射率测定
XP T16-200*XP ISO/TS 10867:2020纳米技术 使用近红外光致发光光谱表征单壁碳纳米管
XP ISO/TS 10867:2020纳米技术 - 使用近红外光致发光光谱表征单壁碳纳米管
NF X31-016*NF EN ISO 17184:2014土质. 采用近红外光谱法 (NIRS) 对碳和氮的测定
NF EN ISO 17184:2014土壤质量 - 通过近红外光谱法 (NIRS) 测定碳和氮
NF M60-827:2014水质. 铀同位素. 采用阿尔法-光谱仪的试验方法
NF EN 62129-1:2016波长测量装置/光频率测量装置的校准第1部分:光谱分析仪
NF EN 61290-5-1:2006光放大器 测试方法 第5-1部分:反射率参数 光谱分析仪方法
NF X21-055:2006表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004光学放大器 试验方法 第3-1部分:噪音数字参数 光谱分析仪法
NF EN 61290-3-1:2004光放大器 测试方法 第3-1部分:噪声系数参数 光谱分析仪方法
NF EN ISO 13032:2012石油产品 汽车增碳剂中的有效浓度测定 人造丝 X 色散荧光光谱法
NF C93-805-1-1:2020光学放大器. 试验方法. 第1-1部分: 功率和增益参数. 光谱分析仪法
NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017光放大器 测试方法 第 1-1 部分:功率和增益参数 光谱分析仪方法
NF EN IEC 61290-1-1:2020光放大器 测试方法 第1-1部分:功率和增益参数 光谱分析仪方法
NF ISO 16794:2003核能 红外光谱法测定六氟化铀中的碳质产物和氟化物
NF ISO 11263:1995土壤质量 - 磷剂量 - 碳酸氢钠溶液中可溶性磷的光谱剂量。
NF C93-805-1-1:2007光纤放大器.试验方法.第1-1部分:功率和增益参数.光频谱分析仪法
NF C93-845-2*NF EN 62150-2:2011光谱分析仪校准.测试和测量规程.第2部分:无源光网络(ATM-PON)收发器
NF X31-403*NF ISO 11263:1995土壤质量.磷的测定.在碳酸氢钠溶液中可溶磷的光谱测定
NF C93-805-5-1:2001光纤增强器.基本规范.第5-1部分:反射参数的试验方法.光频谱分析仪
NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998光纤增强器 基本规范 第2-2部分:光电参数的试验方法 电频谱分析仪
NF EN 15111:2007食品 微量元素的测定 高频诱导等离子体发射光谱法和质谱仪(ICP-MS)测定碘
NF EN 61290-10-1:2009光放大器 测试方法 第10-1部分:多通道参数 使用光开关和光谱分析仪的脉冲方法
NF T51-182*NF ISO 10640:2011塑料.借助FTIR和紫外/可见光谱仪对聚合物光致老化程度进行评估的方法.
XP CEN/TS 17405:2020固定源排放 二氧化碳体积浓度的测定 参考方法:红外光谱法
GB/T 21191-2007原子荧光光谱仪
GB/T 42027-2022气相分子吸收光谱仪
GB/T 32266-2015原子荧光光谱仪性能测定方法
GB/T 25481-2010在线紫外/可见分光光谱分析仪
GB/T 4932-2000二氧化碳激光器系列型谱
GB/T 21186-2007傅立叶变换红外光谱仪
GB/T 32871-2016单壁碳纳米管表征 拉曼光谱法
GB/T 25184-2010X射线光电子能谱仪鉴定方法
GB/T 36244-2018电感耦合等离子体原子发射光谱仪
GB/T 29856-2013半导体性单壁碳纳米管的近红外光致发光光谱表征方法
GB/T 21006-2007表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
GB/T 31364-2015能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法
GB/T 33252-2016纳米技术 激光共聚焦显微拉曼光谱仪性能测试
GB/Z 42358-2023铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精度的测定
GB/T 7603-1987矿物绝缘油中芳碳含量测定法(红外光谱分析法)
GB/T 35306-2023硅单晶中碳、氧含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法
GB/T 22571-2008表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
GB/T 4336-2002碳素钢和中低合金钢火花源原子发射光谱分析方法(常规法)
DB22/T 2414-2015微型光纤光谱仪
JJG 768-2005发射光谱仪
JJG 1035-2022通信用光谱分析仪
JJG(教委) 02-1992激光拉曼光谱仪检定规程
JJG 867-1994光谱测色仪检定规程
JJG 768-1994发射光谱仪检定规程
JJG(电子) 30901-2006光谱分析仪检定规程
JJG(地质) 1006-19903080E型X射线荧光光谱仪检定规程
JJG 1151-2018液相色谱-原子荧光联用仪
JJG 1035-2008通信用光谱分析仪检定规程
JJG 810-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程
JJG(地质) 1011-1990一米平面光栅摄谱仪检定规程
JJG(地质) 1012-1990二米平面光栅摄谱仪检定规程
JJG(教委) 01-1992傅立叶变换红外光谱仪检定规程
JJG(地质) 1015-1990电感耦合等离子体直读光谱仪检定规程
CNS 14341-1999光谱分析仪
CNS 11071-1984碳钢及低合金钢之发光光谱分析法
JB/T 9322-1999光谱投影仪
JB/T 5590-1991光谱仪器用滤光片
JB/T 11145-2011X射线荧光光谱仪
JB/T 9320-1999平面光栅摄谱仪
JB/T 9331-1999光谱仪器用狭缝
JB/T 5478-1991手动扫描光电直读光谱仪
JB/T 8231-1999平面光栅摄谱仪基本参数系列
JB/T 6176-1992摄谱仪感光板暗盒和暗盒框架基本参数
AIR FORCE A-A-59684 A-2009光谱分析仪
AIR FORCE A-A-59684-2004光学频谱分析仪
T/ZZB 0673-2018直读光谱仪
T/QGCML 1522-2023FLA微型光纤光谱仪
T/CAIA YQ004-2018液相色谱与原子荧光光谱联用仪性能测试方法
T/SHDSGY 031-2023高分辨率光谱仪技术规范
T/CSTM 00445-2021辉光放电质谱仪校准规范
T/CSTM 00901-2023手持式X射线荧光光谱仪校准规范
T/CSTM 00159-2020便携式拉曼光谱仪校准方法
T/CAIA YQ003-2016光谱仪器用线阵CCD光电性能 通用测试方法
T/CSTM 00964-2022原子光谱分析仪器性能评价通则
T/CAQI 108-2020便携拉曼光谱仪验证与评价规范
T/CIS 17006-2022傅立叶变换近红外光谱仪通用技术规范
T/CSTM 00962-2022火花放电原子发射光谱仪性能评价方法
T/SCS 000012-2021碳化硼-碳化硅芯块 微量元素的测定 电感 耦合等离子体发射光谱法
T/QAS 074-2021碳酸锂中硫酸根含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法
T/GMES 017-2020钛及钛合金 碳、铁、铝、钒含量的测定 火花放电原子发射光谱法
T/NAIA 0157-2022增碳剂中钛元素的测定 电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)
SY/T 6842-2011过油管碳氧比能谱测井仪
SY 6842-2011过油管碳氧比能谱测井仪
SY/T 5693-2008碳氧比能谱测井仪刻度规范
SY 5693-2008碳氧比能谱测井仪刻度规范
SY/T 5693-1995碳氧比能谱测井仪维修与校验技术规程
ISO/TS 10867:2010纳米技术.单层碳纳米管使用的近红外光激发光谱仪的特性
ISO 23216:2021碳基薄膜.用椭圆光谱法测定非晶碳薄膜的光学特性
ISO 8599:1994光学和光学仪器 接触镜 光谱和光透射率的测定
ISO 6286:1982分子吸收光谱法 词汇 总则 仪器
ISO/TR 18231:2016铁矿石. 波长色散X射线荧光光谱仪. 精度测定
ISO 21270:2004表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
ISO 16129:2012表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
ISO 17184:2014土质. 采用近红外光谱法(NIRS)对碳和氮的测定
ISO/TS 10867:2019纳米技术 - 使用近红外光致发光光谱法测定单壁碳纳米管的特征
ISO 4224:2000环境空气 一氧化碳的测定 非分散红外光谱法
ISO 16129:2018表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
ISO 13166:2014水质. 铀同位素. 采用阿尔法-光谱仪的试验方法
ISO 21501-1:2009粒径分布测定.单粒子光干扰法.第1部分:光散射气溶胶谱仪
ISO 15472:2010表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
ISO 15472:2001表面化学分析X射线光电谱仪能量刻度表校准
ISO 15470:2004表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
ISO 19618:2017精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 利用FTIR光谱仪参考黑体的法向光谱辐射率测量方法
ISO 22309:2006微电子束分析.用能量散射光谱仪(EDS)进行定量分析
ISO 11263:1994土壤质量 磷的测定 光谱法测定碳酸氢钠溶液中可溶磷
ISO 16794:2003核能.六氟化铀红外线光谱法中碳化合物和氟化物的测定
CEN EN 62129-2006光谱分析仪校准
CEN EN 62129-2006_光谱分析仪校准
EN ISO 23216:2022碳基薄膜.用椭圆光谱法测定非晶碳薄膜的光学特性
EN ISO 8599:1996光学和光学仪器 接触镜 光谱和光透射率的测定
EN ISO 17184:2014土壤质量.近红外光谱法(NIRS)测定碳和氮(ISO 17184:2014)
CEN/TS 17405:2020固定源排放二氧化碳体积浓度的测定参考方法:红外光谱法
BS EN 62129-1:2016波长校准/光频测量仪器. 光谱分析仪
BS EN 62129:2006光谱分析仪的校正
BS EN ISO 23216:2022碳基薄膜 用光谱椭圆光度法测定非晶碳薄膜的光学性质
BS ISO 23216:2021碳基薄膜 用光谱椭圆光度法测定非晶碳薄膜的光学性质
20/30400316 DCBS ISO 23216 碳基薄膜 用光谱椭圆光度法测定非晶碳薄膜的光学性质
PD ISO/TS 10867:2019纳米技术 使用近红外光致发光光谱表征单壁碳纳米管
BS EN 61290-5-1:2006光纤放大器.试验方法.反射参数.光谱分析仪法
BS PD ISO/TR 18231:2016铁矿石. 波长色散X射线荧光光谱仪. 精度的测定
PD ISO/TR 18231:2016铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精密度测定
BS ISO 21270:2004表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性
BS EN IEC 61290-1-1:2020光放大器 测试方法 功率和增益参数 光谱分析仪法
BS ISO 16129:2012表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
BS EN 61280-1-1:1998光纤放大器.基本光谱分析仪.单模光缆用发射机光输出功率测量
BS DD ISO/TS 10867:2010纳米技术.近红外光激发光谱的单层壁碳纳米管的特性
BS EN ISO 17184:2014土质. 采用近红外光谱法(NIRS)对碳和氮的测定
BS EN 61290-10-2:2009光学放大器 试验方法 多信道参数 选通光谱分析仪脉冲法
BS EN 61290-10-2:2008光学放大器.试验方法.多信道参数.选通光谱分析仪脉冲法
BS ISO 13166:2014水质. 铀同位素. 采用阿尔法-光谱仪的试验方法
18/30382086 DCBS EN 61452 核仪器仪表 放射性核素伽马射线发射率的测量 锗光谱仪的校准和使用
BS ISO 16129:2018跟踪更改 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
BS EN 61290-10-2:2003光学纤维放大器.试验方法.多道参数.选通光频谱分析仪脉冲法
BS ISO 15470:2005表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
BS EN ISO 20884:2011石油产品.汽车燃料硫含量的测定.波长色散X射线荧光光谱仪
BS ISO 15470:2017表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
20/30412413 DCBS EN IEC 61452 核仪器仪表 放射性核素伽马射线发射率的测量 锗光谱仪的校准和使用
BS ISO 8454:2007+A2:2019香烟 香烟烟雾气相中一氧化碳的测定 近红外光谱法
BS ISO 19618:2017精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 利用FTIR光谱仪参考黑体的法向光谱辐射率测量方法
BS EN 61290-10-1:2003光学纤维放大器.试验方法.多道参数.使用光学开关和光谱分析仪的脉冲法
BS ISO 21270:2005表面化学分析.X射线光电子和俄歇电子光谱仪.强度标的线性度
BS EN 61290-10-4:2007光学放大器.试验方法.多道参数.使用光谱分析仪的内插源减少法
PD ISO/TS 22491:2019水烟丝 水烟烟气气相中一氧化碳的测定 近红外光谱法
BS EN 61290-3-1:2003光学纤维放大器.基础规范.噪音数字参数的测试方法.光谱分析仪法
BS EN 61290-3-1:2004光学纤维放大器 基础规范 噪音数字参数的测试方法 光谱分析仪法
BS EN 61290-1-1:2006光纤放大器.试验方法.第1-1部分:功率和增益参数.光学频谱分析仪法
BS EN 61290-1-1:2015光纤放大器.试验方法.第1-1部分:功率和增益参数.光学频谱分析仪法
BS EN 61290-1-1:2007光纤放大器 试验方法 第1-1部分:功率和增益参数 光学频谱分析仪法
BS DD ISO/TS 10868:2011毫微技术.使用可见光近红外(UV-Vis-NIR)吸收光谱学的单壁碳纳米管特性描述
BS EN 12631:1999水果汁和蔬菜汁.D和L乳酸酯中酶的测定.NADG光谱仪法
IEC PAS 62129:2004光谱分析仪的校正
IEC 62129:2006光谱分析仪校准方法
IEC 61976:2000核仪器装置.光谱测定法.HPGe核γ射线光谱测定法中光谱底色的特性
IEC 62129-1:2016波长/逛拼测量仪器校准.第1部分:光谱分析仪
IEC 61239:1993核仪器 勘测用便携式γ辐射计和光谱仪 定义、要求和校准
IEC TR3 61276:1994核仪器 计量学支持的核辐射光谱系统选择指南
IEC 61290-3-1:2003光学放大器.试验方法.第3-1部分:噪音数字参数.光谱分析仪法
IEC 61290-1-1:2020 RLV光放大器.试验方法.第1-1部分:功率和增益参数.光谱分析仪法
IEC 61290-1-1:2020光放大器 - 测试方法 - 第1-1部分:功率和增益参数 - 光谱分析仪方法
IEC 61290-2-1:1998光学纤维放大器 基础规范 第2-1部分:光功率参数的测量方法 光频谱分析仪
IEC 61290-1-1:2015光学放大器.试验方法.第1-1部分:功率和增益参数.光频谱分析仪法
IEC 61290-1-1:2006光学放大器.试验方法.第1-1部分:功率和增益参数.光频谱分析仪法
IEC 61290-10-2:2003光学放大器.试验方法.第10-2部分:多道参数.选通光频谱分析仪脉冲法
IEC 61290-10-1:2003光学放大器.试验方法.第10-1部分:多道参数.使用光学开关和光谱分析仪的脉冲法
IEC 61290-10-1:2009光学放大器.试验方法.第10-1部分:多通道参数.使用光学开关及光谱分析仪的脉冲法
DS/EN 62129/Corr. 1:2007光谱分析仪的校准
DS/EN 62129:2006光谱分析仪的校准
DS/ISO/TS 10867:2011纳米技术 使用近红外光致发光光谱表征单壁碳纳米管
DS/ISO 23216:2021Carbon based films 非晶碳薄膜的光学性质的光谱椭偏法测定
DS/EN 61290-5-1:2006光放大器 测试方法 第 5-1 部分:反射参数 光谱分析仪方法
DS/EN 15483:2009环境空气质量 使用 FTIR 光谱仪进行近地大气测量
DS/EN 61290-3-1:2004光放大器 测试方法 第 3-1 部分:噪声系数参数 光谱分析仪方法
DS/EN 61290-1-1:2007光放大器 测试方法 第 1-1 部分:功率和增益参数 光谱分析仪方法
DS/EN IEC 61290-1-1:2020光放大器 测试方法'第1-1部分:功率和增益参数 光谱分析仪方法
DS/EN 61290-10-1:2009光放大器 测试方法 第 10-1 部分:多通道参数 使用光开关和光谱分析仪的脉冲法
IS 6471-1971光谱仪规格(学生型)
IS 12803-1989X射线荧光光谱仪分析水硬性水泥的方法
IS 12737-1988半导体 X 射线能量光谱仪的标准测试程序
JIS C 6192:2008光谱分析仪的校准
JIS M 8205:2000铁矿石.X射线荧光光谱仪分析
JIS B 7753:1993光暴置及光和水暴置仪器(明焰日光碳弧式)
JIS C 6183-1:2019光谱分析仪. 第1部分: 试验方法
JIS C 6183:1992纤维光学波谱分析仪的试验方法
JIS G 1252:1975碳素钢及低合金钢的发射光谱分析方法
JIS H 1632-3:2014钛.ICP等离子发射光谱仪.第3部分:硼的测定
JIS K 0162:2010表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
JIS C 6122-1-1:2011光纤放大器.测试方法.第1-1部分:增益参数和功率.光学频谱分析仪法
JIS C 6122-3-1:2011光学放大器.试验方法.第3-1部分:噪音指数参数.光学频谱分析仪方法
JIS K 1201-5:2000工业用碳酸钠.第5部分:铁含量的测定.1,10-菲咯啉分子吸收光谱测定法、原子吸收光谱测定法和感应耦合等离子体原子发射光谱测定法
JIS C 6122-10-1:2007光学放大器.试验方法.第10-1部分:多道参数.利用光学开关和光谱分析仪的脉冲法
JIS H 1632-1:2014钛.ICP等离子发射光谱仪.第1部分:通用要求和样品分解
QX/T 532-2019Brewer光谱仪标校规范
QX/T 565-2020激光滴谱式降水现象仪
QX/T 429-2018温室气体 二氧化碳和甲烷观测规范 离轴积分腔输出光谱法
GOST 27176-1986光学光谱仪器.术语和定义
GOST 22091.8-1984X射线仪.光谱成分和光谱相对污染程度测量方法
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