CB/T3928-1999船用手动比例流量
2023-09-01
表面晶体检测报告如何办理?检测项目及标准有哪些?百检第三方检测机构,严格按照表面晶体检测相关标准进行测试和评估。做检测,找百检。我们只做真实检测。
涉及表面 晶体的标准有17条。
国际标准分类中,表面 晶体涉及到频率控制和选择用压电器件与介质器件、半导体材料。
在中国标准分类中,表面 晶体涉及到石英晶体、压电元件、金属物理性能试验方法、元素半导体材料。
GB/T 22319.8-2008石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
BS EN 60444-8-2017石英晶体元件参数的测量.表面安装石英晶体元件用试验装置
BS EN 60444-8-2017石英晶体元件参数的测量.表面安装石英晶体元件用试验装置
BS EN 60444-8-2003石英晶体元件参数的测量.表面安装石英晶体元件用试验装置
KS C IEC 60444-8-2016(2021)石英晶体元件参数测量第8部分:表面安装石英晶体元件试验夹具
IEC 60444-8:2016石英晶体单位参数测量第8部分:表面贴装石英晶体单元的测试夹具
IEC 60444-8-2016石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
IEC 60444-8-2016石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
IEC 60444-8-2003石英晶体元件参数的测量第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
IEC 60444-8:2003石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装石英晶体元件的试验夹具
DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007微型表面安装石英晶体单位
NF C93-621-8-2005石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件用试验设备
DIN EN 60444-8-2004石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件用测试工具
DIN 50434-1986半导体工艺材料的检验.对(111)和(100)表面采用蚀刻技术的单晶硅的晶体结构缺陷的测定
EN 60444-8-2003石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件的测试设备 IEC 60444-8-2003
ASTM F950-98用角抛光和缺陷蚀刻法测量机械加工硅片表面晶体损伤深度的标准试验方法
ASTM F950-1998用角抛光和疵点侵蚀加工法测量机械加工硅片表面晶体损坏深度的试验方法
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