标准简介：本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。

标准号：GB 5594.3-1985

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法

英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for mean coefficient of linear expansion

标准类型：国家标准

标准性质：强制性

标准状态：作废

发布日期：1985-11-27

实施日期：1986-12-01

中国标准分类号（CCS）：>>>>L32

国际标准分类号（ICS）：31.030

替代以下标准：被GB/T 5594.3-2015代替

起草单位：电子工业部12所

归口单位：信息产业部（电子）

发布单位：国家标准局

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