标准简介：本标准规定了用透射电子显微镜(TEM)对薄晶体试样的微米和亚微米尺寸区域进行选区电子衍射分析的方法。被测试样可以从各种金属或非金属材料的薄切片获得,也可以采用细微的粉末或萃取复型试样。应用本方法可分析的最小试样选区直径取决于显微镜物镜的球差系数,对于现代TEM,试样的最小选区直径一般可达到0.5μm。当被分析试样区的直径小于0.5μm 时仍然可以参照本标准的分析方法,但是由于球差的影响,衍射谱上的部分信息有可能来源于由选区光阑限定的区域之外,在这种情况下,如条件允许,最好采用微(纳)衍射或者会聚束电子衍射方法。选区电子衍射方法的成功应用取决于对所获得的衍射谱指数标定正确与否,而不论试样的哪个晶带轴平行于入射电子束,因而,这样的分析往往需要借助试样的倾转和旋转装置。本标准适用于从晶体试样上获取SAED 谱、标定衍射谱的指数以及校准电镜的衍射常数。

标准号：GB/T 18907-2013

标准名称：微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法

英文名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2013-07-19

实施日期：2014-03-01

中国标准分类号（CCS）：化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法

国际标准分类号（ICS）：化工技术>>分析化学>>71.040.50物理化学分析方

替代以下标准：替代GB/T 18907-2002

起草单位：北京科技大学、北京航空材料研究院、宝钢集团中央研究院

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

发布单位：国家质量监督检验检疫.

检测流程

温馨提示：以上内容仅供参考，更多其他检测内容请咨询客服。