子光电器件检测报告如何办理？检测项目及标准有哪些？百检第三方检测机构，严格按照子光电器件检测相关标准进行测试和评估。做检测，找百检。我们只做真实检测。

涉及子 光电 器件的标准有168条。

国际标准分类中，子 光电 器件涉及到玻璃、电子显示器件、机械安全、特殊工作条件下用电气设备、光电子学、激光设备、半导体分立器件、光纤通信、光学设备、太阳能工程、频率控制和选择用压电器件与介质器件、词汇、航空航天发动机和推进系统、电子管。

在中国标准分类中，子 光电 器件涉及到特种玻璃、半导体发光器件、其他、卫生、安全、劳动保护、半导体光敏器件、、、太阳能、光电子器件综合、半导体分立器件综合、光通信设备、半导体集成电路、基础标准与通用方法、微电路综合、石英晶体、压电元件、激光器件、继电保护及自动装置、低压配电用器具、数据通信设备、标准化、质量管理、电真空器件综合、其他电真空器件、技术管理、敏感元器件及传感器。

国家质检总局，关于子 光电 器件的标准

GB/T 41742-2022光电器件用低温封接玻璃

GB/T 18910.61-2012液晶显示器件.第6-1部分：液晶显示器件测试方法.光电参数

GB/T 22181.22-2008等离子体显示器件 第2-2部分:光电参数测量方法

GB 19436.3-2008机械电气安全.电敏防护装置.第3部分:使用有源光电漫反射防护器件(AOPDDR)设备的特殊要求

GB/T 19436.2-2004机械电气安全电敏防护装置 第2部分;使用有源光电防护器件(AOPDs)设备的特殊要求

GB/T 18904.5-2003半导体器件第12-5部分;光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于子 光电 器件的标准

GB/T 18910.61-2021液晶显示器件 第6-1部分：液晶显示器件测试方法 光电参数

国际电工委员会，关于子 光电 器件的标准

IEC 60747-5-16-2023半导体器件.第5-16部分:光电子器件.发光二极管.基于光电流光谱的GaN基发光二极管的平带电压的试验方法

IEC 62007-1-2015/AMD1-2022修改件1.光纤系统应用的半导体光电器件.第1部分:基本额定值和特性的规范模板

IEC 62007-1:2015/AMD1:2022修改件1.光纤系统应用的半导体光电器件.第1部分:基本额定值和特性的规范模板

IEC 62007-1-2015+AMD1-2022 CSV光纤系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值和特性的规范模板

IEC 60747-5-13-2021半导体器件第5-13部分:光电器件LED封装的硫化氢腐蚀试验

IEC 60747-5-5:2020半导体器件第5-5部分:光电子器件光电耦合器

IEC 60747-5-5-2020半导体器件第5-5部分:光电子器件光电耦合器

IEC 60747-5-8-2019半导体器件第5-8部分:光电子器件发光二极管发光二极管光电效率试验方法

IEC 60747-5-8:2019半导体器件第5-8部分:光电子器件发光二极管发光二极管光电效率试验方法

IEC 60747-5-7-2016半导体器件 - 第5-7部分:光电器件 - 光电二极管和光电晶体管

IEC 62007-1:2015纤维光学系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性用规范模板

IEC 60747-5-5:2007/AMD1:2013修改件1.半导体器件.分立器件.第5-5部分:光电子器件.光电耦合器

IEC 60747-5-5-2007/AMD1-2013修改件1.半导体器件.分立器件.第5-5部分:光电子器件.光电耦合器

IEC 60747-5-5:2007+AMD1:2013 CSV半导体器件分立器件第5-5部分:光电器件设备-光电耦合器

IEC 60747-5-5-2007+AMD1-2013 CSV半导体器件分立器件第5-5部分:光电器件设备-光电耦合器

IEC 60747-5-5 Edition 1.1:2013半导体器件.分立器件.第5-5部分:光电器件.光电耦合器

IEC 60747-5-5 AMD 1:2013半导体器件.分立器件.第5-5部分:光电器件.光电耦合器

IEC 61753-061-2:2012纤维光学互连器件和无源元件性能标准.第061-2部分:C类非连接单模全光纤光电隔离器.受控环境

IEC 60747-5-3 Edition 1.1:2009分立半导体器件及集成电路.第5-3部分:光电元件.测量方法

IEC 60747-5-2 Edition 1.1:2009分立半导体器件及集成电路.第5-2部分:光电元件.基本额定值及特性

IEC 60904-4:2009光电器件.第4部分:参考太阳能装置.建立校准溯源性的程序

IEC 62007-2-2009用于光纤系统应用的半导体光电器件第2部分:测量方法

IEC 62007-2 Edition 2.0:2009纤维光学系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法

IEC 62007-2:2009光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法

IEC 60904-7:2008光电器件.第7部分:光电器件的测量用光谱错配修正的计算

IEC 62007-1:2008纤维光学系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性用规范模板

IEC 60904-9:2007光电器件.第9部分:太阳模拟器的性能要求

IEC 60747-5-5-2007半导体器件 - 分立器件 - 第5-5部分:光电器件 - 光电耦合器（Iec 60747-5-5:2007/A1:2013）

IEC 60747-5-4-2006半导体器件 - 分立器件 - 第5-4部分:光电器件 - 半导体激光器

IEC 60747-5-4:2006半导体器件.分立器件.第5-4部分:光电器件.半导体激光器

IEC 62007-2 Edition 1.1:1999纤维光学系统用半导体光电器件 第2部分:测量方法

IEC 62007-1 Edition 1.1:1999光纤系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性.

IEC 62007-1 AMD 1:1998光纤系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性.修改件1

IEC 62007-2 AMD 1:1998光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法.修改件1

IEC 60747-5-3-1997分立半导体器件和集成电路 - 第5-3部分:光电器件 - 测量方法

IEC 60747-5-1-1997分立半导体器件和集成电路第5-1部分:光电器件总则

IEC 62007-2:1997光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法

IEC 62007-1:1997光纤系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性

IEC 60747-12-5:1997半导体器件 第12-5部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的PIN光电二极管空白详细规范

IEC 60747-12-6:1997半导体器件 第12-6部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的雪崩光电二极管空白详细规范

IEC 60904-8:1995光电器件.第8部分:光电器件的光谱反应的测量导则

IEC 60904-7:1995光电器件.第7部分:光电器件检验中对失配误差的计算

IEC 60306-4:1971光敏器件的测量 第4部分:光电倍增管的测量方法

IEC 60306-3:1970光敏器件的测量 第3部分:用于可见光谱的光电导管的测量方法

中国团体标准，关于子 光电 器件的标准

T/CAIA YQ007-2021电子倍增电荷耦合成像器件 光电性能通用测试方法

，关于子 光电 器件的标准

SIS SS CECC 20000-1983通用规范．半导体光电器件和液晶器件

工业和信息化部，关于子 光电 器件的标准

SJ/T 11766-2020光电耦合器件低频噪声参数测试方法

SJ/T 11591.4.1.1-2016立体显示器件 第4-1-1部分：眼镜式立体显示器件测量方法-光学和光电

英国标准学会，关于子 光电 器件的标准

BS EN IEC 60904-1:2020光电器件. 光电电流-电压特性的测量

BS EN IEC 60904-9:2020光电器件. 太阳能模拟器的特性分类

BS EN 60904-3-2016光电器件.用参考光谱照射数据对陆地光电(PV)太阳能装置的测量原理

BS EN 60904-2-2015光电器件.对光伏基准装置的要求

BS EN 60904-8-2014光电器件.光电器件波谱反应测量

BS EN 61753-061-2-2012纤维光学互连器件和无源元件性能标准.C类非连接单模全光纤光电隔离器.受控环境

BS EN 61730-1-2007+A1-2012光电器件(PV)模块安全合格鉴定.结构要求

BS EN 60747-5-5-2011半导体器件.分立器件.光电器件.光电耦合器

BS EN 62007-2-2009光纤系统用半导体光电器件.测量方法

BS EN 60904-7-2009光电器件.第7部分:光电器件测量的光谱失谐修正的估算

BS EN 60904-3-2008光电器件.用参考光谱照射数据对陆地光电(PV)太阳能装置的测量原理

BS DD CLC/TS 61496-3-2008机械安全性.电敏保护设备.漫反射敏感有源光电保护器件的详细要求(AOPDDR)

BS EN 61730-2-2007+A1-2012光电器件(PV)模件安全性资格.试验要求

BS EN 61730-2-2007光电器件(PV)模件安全性资格.试验要求

BS EN 60904-2-2007光电器件.基准太阳能装置的要求

BS EN 61730-1-2007光电器件(PV)模块安全合格鉴定.结构要求

BS EN 60904-1-2006光电器件.光电电流-电压特性的测量

BS IEC 60747-5-4:2006半导体器件.分立器件.光电器件.半导体激光器

BS DD CLC/TS 61496-2-2003机械安全.电感防护设备.使用有源光电防护器件的设备的特殊要求

BS EN 62007-2-2000光纤系统半导体光电器件.测量方法

BS EN 62007-1-2000光纤系统半导体光电器件.基本额定值及特性

BS EN 60904-8-1998光电器件.光电器件波谱反应测量

BS IEC 60747-5-1:1998分立半导体器件和集成电路.光电器件.概述

BS EN 60747-5-2-2001分立半导体器件和集成电路.光电器件.基本额定值和特征

BS EN 60747-5-1-2001半导体分立器件和集成电路.光电器件.总则

BS IEC 60747-5-3:1998分立半导体器件和集成电路.光电器件.测量方法

BS EN 60747-5-3-2001半导体分立器件和集成电路.光电器件.测量方法

BS EN 61727-1996光电器件(PV)系统-通用接口的特性

BS EN 60904-6-1995光电器件.参考太阳能模数要求

BS 6493-1.5-1992半导体器件.分立器件.光电器件的推荐性规程.第5节:光电器件的的推荐性规程

BS CECC 20000-1983电子元器件质量评定协调体系.总规范.半导体光电和液晶器件

法国标准化协会，关于子 光电 器件的标准

NF C57-329-2020光电器件. 第9部分: 太阳能模拟器的特性分类

NF C93-801-1-2015光纤系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性用规范模板

NF C57-322-2015光电器件.第2部分:标准设备的要求

NF C93-909-061-2-2013光纤互连器件和无源元件 - 性能标准 - 第061-2部分: C类非连接单模全光纤光电隔离器 - 受控环境

NF C96-005-5-2012半导体器件.分立元件.第5-5部分:光电器件.光电耦合器

NF C57-324-2010光电器件.第4部分:参考太阳能装置.建立校准溯源性的程序.

NF C93-801-2-2009光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法

NF C93-801-1-2009光纤系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性用规范模板

NF C57-329-2008光电器件.第9部分:太阳能模拟器的性能要求

NF C57-322-2007光电器件.第2部分:标准太阳能设备的要求

NF C57-111-2-2007光电器件(PV)模件安全合格鉴定.第2部分:测试要求

NF C57-330-1999光电器件,第10部分:线性测量方法

NF C96-005-1994分立器件和集成电路.第5部分:光电器件

NF C86-504-1988半导体器件.电子器件质量评估协调体系.带光电晶体管输出的特定环境温度光电耦合器.空白详细规范

NF C86-506-1986半导体器件.电子元件统一质量评审体系.光导纤维用插脚式光电二极管.空白详细规范 .规范CECC 20 006

NF C86-505-1986半导体器件.电子元器件质量评估协调体系.光电二极管、光电二极管排列.空白详细规范 CECC 20 005

NF C86-503-1986半导体器件.电子元器件统一质量评审体系.光电晶体管、光电复合晶体管和光电半导体电路.空白详细规范CESS 20 003

德国标准化学会，关于子 光电 器件的标准

DIN EN 60904-3-2017光电器件.第3部分:带基准光谱辐照数据的地球光电(PV)太阳能器件的测量原理(IEC 60904-3-2016);德文版本EN 60904-3-2016

DIN EN 61753-061-2-2013纤维光学互连器件和无源元件.性能标准.第061-2部分:C类非连接单模全光纤光电隔离器.受控环境 (IEC 61753-061-2-2012).德文版本EN 61753-061-2-2012

DIN EN 60904-7-2009光电设备.第7部分:光电器件测量的光谱失谐修正的估算(IEC 60904-7:2008),德文版本EN 60904-7:2009

DIN EN 62007-2-2009光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法(IEC 62007-2-2009).德文版本EN 62007-2-2009

DIN EN 60904-3-2009光电器件.第3部分:带基准光谱辐照数据的地球光电(PV)太阳能器件的测量原理

DIN EN 60904-9-2008光电器件.第9部分:太阳模拟器性能要求

DIN EN 60904-1-2007光电器件.第1部分:光电器件电流-电压特征测量(IEC 60904-1:2006)

DIN V VDE V 0126-18-6-2007太阳能硅片.第6部分:光电器件用硅中代位碳原子和间隙氧含量的测量方法

DIN EN 60747-5-3-2003半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电器件.测量方法 (IEC 60747-5-3:1997 + A1:2002); 德文版本 EN 60747-5-3:2001 + A1:2002

DIN EN 60747-5-2-2003半导体分立器件和集成电路.第5-2部分:光电器件.基础额定值及特性 (IEC 60747-5-2:1997 + A1:2002); 德文版本 EN 60747-5-2:2001 + A1:2002

DIN EN 60747-5-1-2003半导体分立器件和集成电路.第5-1部分:光电器件.总则 (IEC 60747-5-1:1997 + A1:2001 + A2:2002); 德文版本 EN 60747-5-1:2001 + A1:2002 + A2:2002

DIN EN 61727-1996光电器件(PV)系统.网络接的特性

行业标准-电子，关于子 光电 器件的标准

SJ/T 11591.4.2.1-2016立体显示器件第4-2-1部分:自由立体显示器件测量方法光学和光电

SJ 20965-2006光电器件用氧化铍陶瓷载体规范

SJ 20644.2-2001半导体光电子器件GD101型PIN光电二极管详细规范

SJ 20644.1-2001半导体光电子器件GD3550Y型PIN光电二极管详细规范

SJ 20642.7-2000半导体光电器件GR1325J型长波长发光二极管组件详细规范

SJ 50033/113-1996半导体光电子器件.GD3252Y型光电二极管详细规范

SJ 50033/111-1996半导体光电子器件GTI6型硅NPN光电晶体管详细规范

SJ 50033/112-1996半导体光电子器件.GD3251Y型光电二极管详细规范

SJ/Z 9011.4-1987光敏器件的测试第４部分：光电倍增管的测试方法

SJ/Z 9011.3-1987光敏器件的测试 第3部分：用于可见光谱的光电导管的测试方法

美国材料与试验协会，关于子 光电 器件的标准

ASTM E1021-12光电器件波谱反应的测量标准试验方法

ASTM E1462-12光电器件模块的完整性绝缘和连续地面路径的标准试验方法

ASTM E1143-05根据试验参数测定光电器件参数线性度的标准试验方法

ASTM E1143-05(2010)根据试验参数测定光电器件参数线性度的标准试验方法

ASTM E1143-05(2015)根据试验参数测定光电器件参数线性度的标准试验方法

ASTM E1462-00光电器件模块的完整性绝缘和连续地面路径的标准试验方法

ASTM E1462-00(2006)光电器件模块的完整性绝缘和连续地面路径的标准试验方法

ASTM E1143-99根据试验参数测定光电器件参数线性度的标准试验方法

国家*用标准-总装备部，关于子 光电 器件的标准

GJB 33/22-2011半导体光电子器件.GO103型光电耦合器详细规范

GJB 33/17-2011半导体光电子器件.GO11型半导体光电耦合器详细规范

GJB 33/19-2011半导体光电子器件.GH302-4型光电耦合器详细规范

GJB 33/21-2011半导体光电子器件.GD310A系列光电耦合器详细规范

GJB 33/18-2011半导体光电子器件.GO417型双向半导体光电耦合模拟开关详细规范

GJB 33/20-2011半导体光电子器件.GH302型光电耦合器详细规范

GJB 33/23-2011半导体光电子器件.GH3201Z-4型光电耦合器详细规范

日本工业标准调查会，关于子 光电 器件的标准

JIS B9704-3-2011机械安全性.电敏保护设备.第3部分:使用有源光电漫反射防护器件(AOPDDR)的详细要求

JIS C8921-2008光电器件.第2部分:基准太阳能器件的要求

韩国标准，关于子 光电 器件的标准

KS C IEC 60904-7:2010光伏器件.第7部分:光电器件的测量用光谱错配修正的计算

KS C IEC 62007-2:2003光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法

KS C IEC 62007-1:2003光纤系统用半导体光电器件.第2部分:基本额定值及特性.

欧洲电工标准化委员会，关于子 光电 器件的标准

EN 62007-2-2009光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法

EN 60747-5-3-2001分立半导体器件和集成电路.第5-3部分:光电设备.测量方法;包含修改件A1-2002

EN 60747-5-2-2001分立半导体器件和集成电路.第5-2部分:光电设备.基本额定值和特性;包含修改件A1-2002

EN 61496-3-2001机械安全性.电感防护设备.第3部分:使用有源光电漫反射防护器件(AOPDDR)设备的特殊要求 IEC 61496-3-2001

EN 120000-1996通用规范:半导体光电器件和液晶设备;由EN 61747-1-1999替代

美国保险商实验所，关于子 光电 器件的标准

UL 1703-2002平板光电器件组件和配电盘

UL 1703-1993平板光电器件组件和配电盘

欧洲标准化委员会，关于子 光电 器件的标准

prEN 60904-2-1993光电器件.第2部分:基准太阳能电池的要求

prEN 60904-3-1993光电器件.第3部分:具有基准光谱辐照数据的地面光伏太阳能器件的测量原理

prEN 60904-1-1993光电器件.第1部分:光伏电流-电压性能的测定

美国电信工业协会，关于子 光电 器件的标准

TIA TSB-62-1993光纤、光缆、光电源和光电探测器、传感器、连接和终端器件及其他光元件的信息测试方法

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