紫外光电子和x射线光电子能谱检测报告如何办理？检测项目及标准有哪些？百检第三方检测机构，严格按照紫外光电子和x射线光电子能谱检测相关标准进行测试和评估。做检测，找百检。我们只做真实检测。

涉及紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准有221条。

国际标准分类中，紫外光电子 和x射线光电子能谱涉及到分析化学、光学和光学测量、无损检测、电子元器件综合、长度和角度测量、电学、磁学、电和磁的测量、有色金属、电工和电子试验、医学科学和保健装置综合、光学设备、环保、保健和安全、医疗设备、表面处理和镀涂、金属的腐蚀、陶瓷、耐火材料、非金属矿、物理学、化学、涂料和清漆、计量学和测量综合、纸和纸板、金属材料试验。

在中国标准分类中，紫外光电子 和x射线光电子能谱涉及到基础标准与通用方法、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、电子光学与其他物理光学仪器、光学测试仪器、标准化、质量管理、化学、电子测量与仪器综合、综合测试系统、电化学、热化学、光学式分析仪器、电子元件综合、光学计量仪器、轻金属及其合金分析方法、物理学与力学、、化学助剂基础标准与通用方法、金属无损检验方法、颜料、贵金属及其合金、犯罪鉴定技术、耐火材料综合、造纸综合、纸。

国际标准化组织，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

ISO 16129:2012表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程

ISO 16129:2018表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法

ISO 21270:2004表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

ISO 18516:2006表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定

ISO 18554:2016表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序

ISO 10810:2019表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南

ISO 19830:2015表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的*低报告要求

ISO 10810:2010表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则

ISO/CD TR 18392:2023表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序

ISO/TR 18392:2005表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序

ISO 14701:2018表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量

ISO 16243:2011表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据

ISO 15470:2017表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明

ISO 14701:2011表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量

ISO 13424:2013表面化学分析——X射线光电子能谱；薄膜分析结果的报告

ISO 20903:2019表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息

ISO 20903:2011表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法

ISO 17109:2022表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法

ISO 24237:2005表面化学分析.X射线光电子光谱法.强度的可重复性和稳定性

ISO 18118:2004表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南

ISO 18118:2015表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南

ISO 17109:2015表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法

ISO/TR 19319:2003表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测

ISO/DIS 18118:2023表面化学分析 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南

ISO/FDIS 18118:2023表面化学分析 - 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 - 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南

ISO 20903:2006表面化学分析.螺旋电子光谱法和X-射线光电光谱学.报告结果时测定峰强度的方法和必要信息的使用方法

ISO 19668:2017表面化学分析.X射线光电子能谱学.均匀材料中元素检测极限的估算和报告

ISO 17470:2004微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南

ISO/CD 5861表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色Al Ka XPS仪器强度校准方法

ISO/DIS 5861:2023表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法

ISO 16531:2013表面化学分析.深度剖析.原子发射光谱(AES)和光电子能谱(XPS)中深度剖析用电流或电流密度的离子束校正和相关测量方法

ISO 22489:2006微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

ISO 22489:2016微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

ISO 17470:2014微束分析. 电子探针微量分析. 用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南

ISO 22581:2021表面化学分析X射线光电子能谱测量扫描的近实时信息含碳化合物表面污染的识别和校正规则

英国标准学会，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

BS ISO 16129:2012表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程

BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序

BS ISO 21270:2004表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性

BS ISO 18516:2006表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定

BS ISO 18554:2016表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序

BS ISO 21270:2005表面化学分析.X射线光电子和俄歇电子光谱仪.强度标的线性度

BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南

BS ISO 19830:2015表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的*低报告要求

BS ISO 10810:2010表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南

BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量

BS ISO 16243:2011表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据

BS ISO 14701:2011表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量

BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法

BS ISO 15472:2010表面化学分析.X射线光电子分光计.能量等级的校准

BS ISO 20903:2011表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息

BS ISO 24237:2005表面化学分析.X射线光电子光谱学.强度标的可重复性和稳定性

BS ISO 20903:2019 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息

BS ISO 17109:2022表面化学分析 深度剖析 使用单层和多层薄膜的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率的测定方法...

21/30433862 DCBS ISO 17109 AMD1 表面化学分析 深度剖析 使用单一和……的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率测定方法

20/30423741 DCBS ISO 19318 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法

BS ISO 17109:2015表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法

BS ISO 18118:2015 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南

BS ISO 19668:2017表面化学分析 X射线光电子能谱 均质材料中元素检测限的估计和报告

BS ISO 18118:2005表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南

23/30461294 DCBS ISO 18118 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南

DD ISO/TS 10798:2011纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析表征单壁碳纳米管

BS ISO 15632:2012微束分析. 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数

BS ISO 15632:2021微束分析 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数

BS ISO 16531:2013表面化学分析.深度剖析.在光电子能谱(XPS)和原子发射光谱(AES)的深度剖析中离子束校准和电流或电流密度的相关测量用方法

IEC 62607-6-21:2022纳米制造 关键控制特性 第6-21部分：石墨烯基材料 元素组成、C/O比：X射线光电子能谱

19/30394914 DCBS ISO 15632 微束分析 用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数

BS ISO 22489:2007微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析

23/30409204 DCBS EN IEC 62321-3-1 电子技术产品中某些物质的测定 第 3-1 部分 X 射线荧光光谱法元素筛选

BS ISO 22489:2016微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析

BS DD ISO/TS 10798:2011毫微技术.利用扫描电子显微镜和能量色散X射线光谱法分析得出单层碳纳米管的表示特征

BS ISO 17470:2014微束分析. 电子探针显微分析. 采用波长分散X射线光谱测定法的定性点分析指南

BS ISO 22581:2021表面化学分析 来自X射线光电子能谱测量扫描的近实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则

德国标准化学会，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

DIN ISO 16129:2020-11表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序

DIN ISO 16129:2020表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本

DIN ISO 15472:2020-05表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)

DIN ISO 15472:2020表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准（ISO 15472:2010）；英文文本

DIN EN ISO 21587-3:2007-12铝硅酸盐耐火制品的化学分析（替代X射线荧光法）-第3部分：电感耦合等离子体和原子吸收光谱法

DIN EN ISO 10058-3:2009菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析(可选X射线荧光法).第3部分:火焰原子吸收光谱法(FAAS)和电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)(ISO 10058-3-2008).德文版本EN ISO 10058-3-2008

国家质检总局，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

GB/T 25184-2010X射线光电子能谱仪鉴定方法

GB/T 19500-2004X射线光电子能谱分析方法通则

GB/T 21006-2007表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性

GB/T 28632-2012表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定

GB/T 30704-2014表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南

GB/T 22571-2008表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准

GB/Z 32490-2016表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序

GB/T 31470-2015俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则

GB/T 25185-2010表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告

GB/T 28633-2012表面化学分析.X射线光电子能谱.强度标的重复性和一致性

GB/T 28892-2012表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述

GB/T 28893-2012表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息

GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法

GB/Z 21277-2007电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选.X射线荧光光谱法

GB/T 17359-1998电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则

GB/T 31472-2015X光电子能谱中荷电控制和荷电基准技术标准指南

GB/T 29556-2013表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定

GB/T 30702-2014表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南

GB/T 2679.11-2008纸和纸板 无机填料和无机涂料的定性分析.电子显微镜/X射线能谱法

GB/T 2679.11-1993纸和纸板中无机填料和无机涂料的定性分析电子显微镜/X射线能谱法

GB/T 32869-2016纳米技术 单壁碳纳米管的扫描电子显微术和能量色散X射线谱表征方法

美国材料与试验协会，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

ASTM E995-16俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南

ASTM E996-04俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程

ASTM E996-10俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程

ASTM E996-94(1999)俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程

ASTM E996-10(2018)俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程

ASTM E996-19俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程

ASTM E2108-16X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践

ASTM E995-11在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南

ASTM E995-04螺旋电子光谱法和X射线光电光谱法中减去背景技术的标准指南

ASTM E1523-97X射线光电子能谱法中电荷控制和电荷参考技术的标准指南

ASTM E1523-15X射线光电子能谱法中电荷控制和电荷参考技术的标准指南

ASTM E2735-14(2020)用于选择X射线光电子能谱所需校准的标准指南

ASTM E1217-11用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号样品面积的标准操作规程

ASTM E902-94(1999)检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准实施规程

ASTM E2108-10用X射线光电子分光计测定电子能量捆绑刻度的标准实施规程

ASTM E1217-00用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范

ASTM E1217-05用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范

ASTM E2108-00X射线光电子分光仪的电子结合能刻度表的校准的标准操作规程

ASTM E902-05检查X射线光电子光谱仪的操作特性的标准实施规程

ASTM E2735-14选择X射线光电子光谱40;XPS41试验所需校准的标准指南

ASTM E2735-13X射线光电子光谱法 (XPS) 试验所需校准选择的标准指南

ASTM E1523-03X射线光电子谱测定中电荷控制和电荷参照技术标准指南

ASTM E1523-09X射线光电子谱测定中电荷控制和电荷参照技术的标准指南

ASTM E1217-11(2019)用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践

ASTM E1588-10e1扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法射击残留物分析的标准指南

ASTM E2108-05X-射线光电分光仪的电子结合能刻度表校准的标准实施规程

ASTM E1588-16采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准指南

ASTM E1588-16a采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程

ASTM E1588-17采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程

ASTM E2994-21用火花原子发射光谱法和辉光放电原子发射光谱法分析钛和钛合金的标准试验方法（基于性能的方法）

ASTM E1588-07e1用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南

ASTM E1588-07用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南

ASTM E1588-20通过扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱法进行枪支残留分析的标准实践

ASTM E2809-13在法医油漆检查中使用扫描电子显微镜/X射线光谱法的标准指南

ASTM E2994-16采用火花原子发射光谱法和辉光放电原子发射光谱法进行钛和钛合金分析的标准试验方法 (基于性能的方法)

ASTM E280-98(2004)e1在法医聚合物检验中使用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱（SEM/EDS）的标准指南

ASTM E280-21在法医聚合物检验中使用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱（SEM/EDS）的标准指南

ASTM E2809-22在法医聚合物检验中使用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱（SEM/EDS）的标准指南

ASTM E3309-21用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱法（SEM/EDS）报告法医底漆枪弹残留物（pGSR）分析的标准指南

ASTM E3284-23使用扫描电子显微镜/能量分散X射线光谱法（SEM/EDS）对底火残留物（pGSR）进行法医检验的培训标准实施规程

ASTM E3061-17用电感耦合等离子体原子发射光谱法(性能化方法)分析铝和铝合金的标准试验方法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

GB/T 41072-2021表面化学分析 电子能谱 紫外光电子能谱分析指南

GB/T 41073-2021表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求

GB/T 36401-2018表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告

GB/T 41064-2021表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法

GB/T 39560.301-2020电子电气产品中某些物质的测定 第3-1部分：X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴

行业标准-电子，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

SJ/T 10458-1993俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则

SJ/T 10714-1996检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法

韩国科技标准局，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

KS D ISO 21270:2005表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性

KS D ISO 21270-2005(2020)表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性

KS D ISO 15470-2005(2020)表面化学分析X射线光电子能谱仪部分性能参数说明

KS D ISO 19318-2005(2020)表面化学分析X射线光电子能谱电荷控制和电荷校正方法报告

KS D ISO 15472-2003(2018)表面化学分析-X射线光电子分光器-能量刻度矫正

KS D ISO 19319-2005(2020)表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定

KS D ISO 18118:2005表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南

KS D ISO 18118-2005(2020)表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南

KS D ISO 19319:2005表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测

KS L ISO 20565-3-2012(2017)含铬耐火制品和含铬原料的化学分析（X射线荧光法的替代方法）第3部分:火焰原子吸收光谱法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）

KS L ISO 20565-3-2012(2022)含铬耐火制品和含铬原料的化学分析（X射线荧光法的替代方法）第3部分:火焰原子吸收光谱法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）

KS L ISO 10058-3-2012(2022)菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析（代替X射线荧光法）第3部分:火焰原子吸收分光光度法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）

KS L ISO 10058-3-2012(2017)菱镁矿和白云石耐火制品化学分析方法（X射线荧光法的替代方法）第3部分:火焰原子吸收分光光度法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）

KS D ISO 22489:2012微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

KS D ISO 15632:2018微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数

KS L ISO 21079-3-2012(2022)含氧化铝、氧化锆和二氧化硅的耐火材料的化学分析－含5%至45%ZrO2的耐火材料（代替X射线荧光法）－第3部分:火焰原子吸收光谱法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）

KS L ISO 21079-3-2012(2017)氧化铝、氧化锆、二氧化硅耐火材料化学分析氧化锆含量5%～45%的耐火材料（X射线荧光法的替代方法）第3部分:火焰原子吸收光谱法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）

KS D ISO 22489:2018微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析

未注明发布机构，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

BS ISO 21270:2004(2010)表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度线性度

BS ISO 18516:2006(2010)表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定

法国标准化协会，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

NF X21-061:2008表面化学分析.螺旋电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定

NF X21-071:2011表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析用导则

NF X21-073*NF ISO 16243:2012表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据

NF ISO 16243:2012表面化学分析 X 射线光电子能谱(XPS)中的数据记录和报告

NF X21-058:2006表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息

NF A09-230-3:1999无损检验.X射线电子管电压的测量和评价.第3部分:光谱测定法

NF X21-003:2006微光束分析.电子探针显微分析.波长分布X射线光谱测量法定量分析指南

FD T16-203:2011纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析法表征单壁碳纳米管

NF B40-670-3*NF EN ISO 21587-3:2007硅酸铝耐火材料的化学分析（可选择X射线荧光法）第3部分：感应耦合等电子体和原子吸收光谱测定法

NF X21-006:2007微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析

澳大利亚标准协会，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

AS ISO 15472:2006表面化学分析．X射线光电子光谱法．能量标度的校准

AS ISO 15470:2006表面化学分析．X射线光电子光谱法．选定仪器性能参数的描述

AS ISO 19318:2006表面化学分析．X射线光电子光谱学．电荷控制和电荷调整用报告法

AS ISO 19319:2006表面化学分析．Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法．分析员对横向分辨率；分析区域和样品区域的目视检测

AS ISO 24237:2006表面化学分析．X射线光电子光谱学．强度标的可重复性和恒定性

AS ISO 18118:2006表面化学分析．俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法．均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

GB/T 22571-2017表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准

GB/T 33352-2016电子电气产品中限用物质筛选应用通则X射线荧光光谱法

GB/T 33502-2017表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求

KR-KS，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

KS D ISO 15472-2003(2023)表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准

KS D ISO 15632-2018微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数

KS D ISO 22489-2018微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析

KS D ISO 22489-2018(2023)微束分析.电子探针微量分析.用波长色散x射线光谱法对大块样品进行定量点分析

行业标准-有色金属，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

YS/T 739-2010铝电解质分子比及主要成分的测定X射线荧光光谱法

YS/T 644-2007铂钌合金薄膜测试方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量

中国团体标准，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

T/ZSA 39-2020石墨烯测试方法 功函数的测定 紫外光电子能谱法

T/ZGIA 002-2020石墨烯测试方法 功函数的测定 紫外光电子能谱法

日本工业标准调查会，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

JIS K 0145:2002表面化学分析.X射线光电子分光计.能量刻度的校准

JIS K 0167:2011表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南

JIS K 0152:2014表面化学分析. X射线光电子能谱分析. 强度标的重复性和一致性

JIS T 0306:2002用X射线光电子光谱法分析金属生物材料形成的无源膜的状态

JIS K 0190:2010微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法对质量点分析用指南

JIS K 0189:2013微束分析.电子探针显微分析.波长色散X射线光谱学用实验参数的测定

AT-ON，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

ONORM S 5233-1987用于X射线，Y射线和电子光束的电离室放疗的剂量计

行业标准-商品检验，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

SN/T 2003.4-2006电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定.第4部分:能量色散X射线荧光光谱定性筛选法

SN/T 2003.5-2006电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定 第5部分：能量色散X射线荧光光谱定量筛选法

SN/T 2003.3-2006电子电气产品中铅、汞、镉、铬和溴的测定.第3部分:X射线荧光光谱定量筛选法

SN/T 2003.1-2005电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第1部分:X射线荧光光谱定性筛选法

GOSTR，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

PNST 507-2020纳米技术 单壁碳纳米管 使用透射电子显微镜和能量色散 X 射线光谱法进行表征

PNST 508-2020纳米技术 单壁碳纳米管 通过扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱法表征

丹麦标准化协会，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

DS/EN ISO 20565-3:2009含铬耐火制品和含铬原材料的化学分析（替代 X 射线荧光法）第3部分：火焰原子吸收光谱法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-

DS/EN ISO 10058-3:2009菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析（替代 X 射线荧光法） 第3部分：火焰原子吸收分光光度法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）

DS/EN ISO 21587-3:2007铝硅酸盐耐火制品的化学分析（替代 X 射线荧光法）第3部分：电感耦合等离子体和原子吸收光谱法

DS/ISO/TS 10798:2011纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析法表征单壁碳纳米管

立陶宛标准局，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

LST EN ISO 20565-3:2009含铬耐火制品和含铬原材料的化学分析（替代 X 射线荧光法）第3部分：火焰原子吸收光谱法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-

LST EN ISO 10058-3:2009菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析（替代 X 射线荧光法） 第3部分：火焰原子吸收分光光度法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）（ISO 10058-3:20

LST EN ISO 21587-3:2007铝硅酸盐耐火制品的化学分析（替代 X 射线荧光法） 第3部分：电感耦合等离子体和原子吸收光谱法（ISO 21587-3:2007）

福建省地方标准，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

DB35/T 110-2000油漆物证检测电子探针和扫描电镜X射线能谱分析方法

RU-GOST R，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

GOST R ISO 16243-2016确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. X射线光电子能谱 (XPS) 的记录和报告数据

广东省标准，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

DB44/T 1216-2013利用扫描电子显微术和X射线能谱法表征石墨烯的特性

DB44/T 1215-2013利用扫描电子显微术和X射线能谱法表征单壁碳纳米管的特性

欧洲标准化委员会，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

EN ISO 10058-3:2008菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析(可代替X射线荧光法).第3部分:火焰原子吸收分光光度法(FAAS)和电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)［代替:CEN EN ISO 10058］

AENOR，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

UNE-EN ISO 21587-3:2008铝硅酸盐耐火制品的化学分析（替代 X 射线荧光法） 第3部分：电感耦合等离子体和原子吸收光谱法（ISO 21587-3:2007）

国际电工委员会，关于紫外光电子 和x射线光电子能谱的标准

IEC TS 62607-6-21:2022纳米制造.关键控制特性.第6-21部分:石墨烯基材料.元素组成 C/O比:X射线光电子能谱

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